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    電子電工產(chǎn)品的防霉測(cè)試是為了評(píng)估產(chǎn)品在溫暖潮濕環(huán)境中抵抗霉菌生長的能力。這項(xiàng)測(cè)試對(duì)于確保產(chǎn)品在儲(chǔ)存、運(yùn)輸或使用過程中不易受到霉菌侵害而影響性能和壽命至關(guān)重要。防霉測(cè)試通常涉及將產(chǎn)品暴露在有利于霉菌生長的環(huán)境中，然后評(píng)估其抗霉能力。測(cè)試條件通常包括較高的溫度和濕度，以及特定霉菌孢子的存在。

    作為第三方檢測(cè)中心，中科檢測(cè)機(jī)構(gòu)擁有CMA和CNAS認(rèn)證檢測(cè)資質(zhì)，檢測(cè)設(shè)備齊全，數(shù)據(jù)科學(xué)可靠，可出具國家認(rèn)可的電子電工產(chǎn)品防霉試驗(yàn)報(bào)告。

    電子電工產(chǎn)品防霉試驗(yàn)背景

    在一定的氣候和環(huán)境條件下，微生物可在電工電子設(shè)備表面附著并大量繁殖。這些微生物或它們的代謝產(chǎn)物不僅可損壞設(shè)備本身，還可影響設(shè)備的可操作性和使用可靠性。微生物對(duì)設(shè)備的作用形式受到兩種不同過程的影響：直接作用即劣化的材料作為微生物生長的一種營養(yǎng)物質(zhì)，以及間接作用即微生物的代謝產(chǎn)物引起(設(shè)備材料和/或功能的)劣化。

    控制微生物影響的首選方法是選擇不利于生長的材料。同樣可采取的是對(duì)于潛在易損材料和部件進(jìn)行處理或密封。另外，如果設(shè)備在其整個(gè)壽命期間，是在不太可能促進(jìn)微生物生長的環(huán)境中貯存和/或使用，則不必對(duì)設(shè)備進(jìn)行評(píng)估。只有在不能達(dá)到以上這些條件的情況下，通常才需要通過試驗(yàn)來證明設(shè)備整機(jī)或部件的耐霉性。

    電子電工產(chǎn)品防霉測(cè)試依據(jù)國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 2423.16-2022 《環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J和導(dǎo)則：長霉》進(jìn)行。

    電子電工產(chǎn)品防霉試驗(yàn)方法

    試驗(yàn)方法一

    經(jīng)過28d培養(yǎng)以后，確定：

    -外觀檢查確定霉菌生長程度；

    -長霉引起的物理損傷；

    -長霉條件下對(duì)功能和/或電性能的影響，如果相關(guān)規(guī)范中有要求，

    如果相關(guān)規(guī)范要求檢查功能和/或測(cè)量電性能，培養(yǎng)期應(yīng)延長至56d。

    試驗(yàn)方法二

    用營養(yǎng)液對(duì)樣品預(yù)處理后，進(jìn)行為期28d的培養(yǎng)，確定：

    -外觀檢查確定霉菌生長程度；

    -長霉引起的物理損傷；

    -長霉條件下對(duì)功能和/或電性能的影響，如果相關(guān)規(guī)范中有要求通過使用營養(yǎng)液來模擬污染未長霉的樣品，會(huì)降低樣品表面的防性能。如果檢查功能和/或測(cè)量電氣性能，宜考慮該影響。

    使用營養(yǎng)液就會(huì)發(fā)生長霉，如果沒有長霉，宜考慮防劑的影響。

    電子電工產(chǎn)品防霉試驗(yàn)菌種

    黑曲霉 Aspergillus niger；

    土曲霉 Aspergillus terreus；

    球毛殼菌 Chaetomium globosum；

    宛氏擬青霉 Paecilomyces Varioti；

    繩狀青霉Penicillium funicolosum；

    光孢短柄帚霉 Scopulariopsis brevicaulis；

    綠色木霉Trichoderma viride；

    樹脂子囊菌Hormoconis resinae

    電子電工產(chǎn)品防霉試驗(yàn)結(jié)果評(píng)價(jià)

    首先應(yīng)用肉眼檢查樣品，若有必要可用立體顯微鏡放大50倍左右進(jìn)行檢查。應(yīng)按下述等級(jí)評(píng)定和描述長霉程度：

    等級(jí)：

    0級(jí)：在放大50倍下，沒有發(fā)現(xiàn)明顯長需；

    1級(jí)：顯微鏡下看到長霉痕跡；

    2a級(jí)：肉眼看到稀疏長霉或者顯微鏡下看到分散、局部長霉，長霉面積不超過試驗(yàn)面積的5%；

    2b級(jí)：肉眼明顯看到很多地方或多或少均勻長霉，長霉面積不超過試驗(yàn)面積的25%；

    3級(jí)：肉眼明顯看到長霉，長霉面積超過了試驗(yàn)面積的25%。

    注：當(dāng)試樣由不同等級(jí)的零部件組成時(shí)，宜分別對(duì)它們進(jìn)行評(píng)定。對(duì)于試驗(yàn)方法2，只要求檢查抑制真菌生長效力時(shí)，才規(guī)定0等級(jí)。